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临床试验结果表明与植入式脑机接口相关的不良事件发生率较低

导读 对于因神经损伤或疾病(例如 ALS(也称为卢伽雷氏病)、中风或脊髓损伤)导致瘫痪的人,脑机接口 (BCI) 有可能通过传输信号来恢复沟通、活动

对于因神经损伤或疾病(例如 ALS(也称为卢伽雷氏病)、中风或脊髓损伤)导致瘫痪的人,脑机接口 (BCI) 有可能通过传输信号来恢复沟通、活动能力和独立性信息直接从大脑传输到计算机或其他辅助技术。

尽管作为许多脑机接口的核心部件的植入式大脑传感器已在动物神经科学研究中使用了几十年,并已获准短期(<30 天)用于人类,但该技术在长期安全性人类是未知的。

来自前瞻性、开放标签、非随机化 BrainGate 可行性研究的新结果表明,这些传感器的安全性与其他长期植入的神经设备相似,这是规模最大、运行时间最长的植入式脑机接口临床试验。

BrainGate 临床试验由包括马萨诸塞州总医院 (MGH) 在内的多个机构的研究人员协作联盟进行,他们致力于为因神经系统疾病或损伤导致瘫痪的人开发 BCI。

这份由 MGH 领导的团队发表在《神经学》杂志上的新报告检查了 14 名因脊髓损伤、脑干中风或肌萎缩侧索硬化而导致四肢瘫痪(四肢无力)的成年人的数据,这些人从 2004 年到2021 年通过美国的七个临床站点。

参与者在负责产生控制肢体运动的电信号的大脑部分接受了一个或两个微电极阵列的手术植入。有了这些“犹他”微电极阵列,与移动肢体意图相关的大脑信号可以被发送到附近的计算机,该计算机实时解码信号,并允许用户通过考虑移动肢体来控制外部设备。他们身体的一部分。

该研究的作者报告说,在 14 名参与研究的参与者中,装置植入的平均持续时间为 872 天,安全性分析的总时长为 12,203 天。共有68起器械相关不良事件,其中6起器械相关严重不良事件。

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